Verwandeln Sie jedes SEM in ein berührungsloses optisches 3D-Messgerät

Rasterelektronenmikroskope (REM) verwenden einen fokussierten Elektronenstrahl, um Oberflächen abzutasten und hochwertige Bilder von Probenmaterialien und -komponenten zu erzeugen. Durch die Integration Ihres digitalen Bildgebungs-REM mit MeX, einem eigenständigen Softwarepaket, können Sie es in ein echtes Oberflächenmessgerät für detaillierte optische Inspektion und Prüfung verwandeln.

Alicona MeX verwendet stereoskopische Bilder, um automatisch 3D-Informationen abzurufen und stellt einen hochgenauen, robusten und dichten 3D-Datensatz dar. Nach der Erstellung kann der 3D-Datensatz verwendet werden, um eine zuverlässige und nachvollziehbare messtechnische Untersuchung des Bauteils durchzuführen.

Dank MeX ist die SEM-Vergrößerung irrelevant und es können berührungslose Messungen auf Makro- und Mikroebene durchgeführt werden, ohne dass zusätzliche Hardware erforderlich ist. Messen Sie Höhe und Rauheit gemäß den Normen EN ISO 4287/4288, ermitteln Sie das Volumen von Hohlräumen und Vorsprüngen und analysieren Sie Flächenmessungen mit unübertroffener Detailgenauigkeit.

Mit einer Autokalibrierungsroutine verfeinert MeX automatisch Daten für rückverfolgbare 3D-Messungen. Verwandeln Sie jedes SEM mit Alicona MeX in ein berührungsloses optisches 3D-Messgerät.